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    FB760-6型 FB760 F型型 FB760 F型 雙棱鏡干涉實驗儀

    產品名稱:FB760-6型 FB760 F型型 FB760 F型 雙棱鏡干涉實驗儀

    產品詳情

    18世紀法國科學家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將一束相干光的波前分成兩部分形成分波面干涉,利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。目前很多物理實驗教科書都將該方法帶入課堂,測量激光之波長。本雙梭鏡光干涉實驗儀具有這方面的功能。
    本儀器有以下優點
    ☆配有半導體激光(650.0nm)單色光源,半導體激光經偏振片處理可以將光強降低到適當的強度,有既具相干性又不傷害眼睛的優點,可很方便調出圖像清晰干涉條紋。
    ☆導軟和轉盤采用高強度優質鋁合余材料、不會生銹、經久耐用。
    本儀器可完成以下實驗
    ☆觀察雙棱鏡的干涉現象
    ☆測量激光器的波長。
    ☆也可以換其他光源進行雙棱鏡干涉實驗。
    儀器主要配置
    ☆導軌(長100.0cm,分度值1mm,可為用戶特制尺寸)、配有左右橫向平移支架(最大移程40mm)、測微目鏡(或高清CCD)
    ☆FB760/F型采用高清CCD攝像液晶屏顯示替代傳統的測微目鏡。

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